Bilkent Üniversitesi Fizik Bölümü öğretim üyelerinden ve Bilkent Üniversitesi Ulusal Nanoteknoloji Araştırma Merkezi’nde (UNAM) araştırmalarını yürüten Dr. Öğr. Üyesi Onur Tokel’in “Silisyum İçindeki Stres Kaynaklı Çift Kırılma ile Aktive Edilen Lazerle Yazılmış Dalga Levhaları” başlıklı araştırması, önemli bilimsel yayınlardan Optics Letters Dergisi’nde, Editörün Seçimi olarak yayınlandı.
UNAM’ın yöneticiliğini üstlendiği, TÜBİTAK 1004 Mükemmeliyet Merkezi Programı kapsamında desteklenen A1-1004 Platformu’nda yürütülen Ar-Ge projelerinden “Ultra İnce, Mikrokovuklu/Mikrokanallı Cam Üretimi ve İşlenmiş Cam Teknolojileri”nde de görevli Dr. Tokel, Optics Letters Dergisi’nden yayınlanan çalışması ile silisyum (Si) içerisinde stres kaynaklı çift-kırılma temeli ile çalışan dalga levhalarını mümkün kılan özgün bir yöntemi tanıtmıştır. Dr. Tokel ve ekibi, geliştirdikleri yöntem ile gelişmiş üç boyutlu (3D) lazer litografisi kullanarak, Si yonga içerisinde çeyrek ve yarı-dalga levhaları oluşturmayı başarmış ve ileri 3D optik kontrolün mümkün olduğunu göstermiştir. Bu çalışma aynı zamanda literatürde ilk defa yonga içerisinde çift-kırınım etkisinin gözlenmesi olarak öne çıkmaktadır.
Dr. Öğr. Üyesi Onur Tokel’in çalışmasına aşağıdaki bağlantıdan ulaşabilirsiniz:
https://opg.optica.org/ol/fulltext.cfm?uri=ol-49-1-49&id=544684
