Bilkent Üniversitesi Makine Mühendisliği Bölümü öğretim üyesi ve Bilkent Üniversitesi Ulusal Nanoteknoloji Araştırma Merkezi’nde (UNAM) araştırmalarını yürüten Doç. Dr. Selim Hanay ve ekibi, mikroplastik taneciklerini diğer mikroskobik nesnelerden doğru bir şekilde sınıflandırıp ayıran bir yenilikçi bir cihaz geliştirdi.
Doç. Dr. Selim Hanay ve ekibinin “Mikrodalga Rezonatör ve Empedans Sitometrisi Entegrasyonu ile Elektriksel-Geçirgenlik Esaslı Mikroparçacık Sınıflandırması” başlıklı araştırması, Advanced Materials Dergisi’nde yayınlandı. Bu yeni yöntem, mikroplastik taneciklerini hassas ve seçici bir şekilde tespit etmek için empedans sitometrisi ve mikrodalga rezonatörlerini birleştirmektedir. Cihaz, mikroplastik taneciklerini diğer mikroskobik nesnelerden ayıran benzersiz elektriksel özelliklerini kullanmaktadır. Doç. Dr. Hanay, cihazlarının farklı türdeki mikrotanecikleri başarıyla sınıflandırdığını ve mikroplastik taneciklerini 20 mikrometre boyutunda tespit edebildiklerini göstermişlerdir.
Bu teknoloji, mikroplastik kirliliğinin izlenmesi ve azaltılması için hızlı, taşınabilir ve maliyet etkin bir çözüm sunarak çevresel koruma çabalarına önemli katkı sağlamaktadır.
Doç. Dr. Selim Hanay’ın araştırmasına aşağıdaki bağlantıdan ulaşabilirsiniz:
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/adma.202304072
