OSTİM Teknik Üniversitesi Nanoteknoloji Mühendisliği 3. sınıf öğrencileri, “Gelişmiş Malzeme Karakterizasyon Teknikleri” dersleri kapsamında, Bilkent Üniversitesi Ulusal Nanoteknoloji Araştırma Merkezi’nin (UNAM) gelişmiş araştırma altyapısını ziyaret etti.
UNAM’ın deneyimli teknik kadrosunun rehberliğinde, öğrenciler çeşitli son teknoloji analiz cihazlarının pratik uygulamalarını gözlemleme fırsatı buldu. Bu cihazlar arasında, moleküllerin kızılötesi ışığı nasıl emdiğini analiz etmek için kullanılan Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FTIR); UV ve görünür ışık spektrumundaki absorbansı ölçerek kimyasal bileşim ve konsantrasyonu belirleyen Ultraviyole–Görünür Bölge Spektroskopisi (UV-VIS); ısıtma sırasında bir maddenin kütlesindeki değişimleri izleyen Termo Gravimetrik Analiz (TGA); ve malzemelerin ısıya verdiği tepkileri ölçen Diferansiyel Taramalı Kalorimetri (DSC) yer aldı.
Öğrenciler ayrıca, iç yapı ve morfolojiyi çok yüksek çözünürlükte görüntüleyebilen Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM) ve yüzey morfolojisini detaylı bir şekilde inceleyen Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) gibi ileri düzey görüntüleme tekniklerini de incelediler. Ek olarak, malzemelerin faz bileşimi, kristalinlik derecesi ve kafes parametrelerini analiz etmek için kullanılan X-Işını Kırınımı (XRD) hakkında bilgi edindiler.
